Z200手持式激光光譜儀

Z-200是一款更小更輕的手持激光分析儀(LIBZ)。在很多領域可以替換手持式X射線分析儀或電弧火花光譜儀。Z-200可以分析像Be(原子序數Z=4)一樣的輕元素以及像U(原子序數Z=92)一樣的重元素。但Z-200沒有氬氣裝置,不能分析C元素。

  • 型號: Z200
  • 品牌: SCIAPS
  • 聯係: 15890044737

合金分析儀

   Z-200是一款更小更輕的手持式激光誘導擊穿光譜儀(LIBZ)。在很多領域可以替換手持式X射線分析儀或電弧火花光譜儀。Z-200可以分析像Be(原子序數Z=4)一樣的輕元素以及像U(原子序數Z=92)一樣的重元素。但Z-200沒有氬氣裝置,不能分析C元素。Z-200可以快速分析鋁合金、銅合金、不鏽鋼、鎳合金以及其他高溫合金。Z-200內置低能量脈衝激光,高解析度分光儀(200-500nm)以及中等尺寸的顯示屏。

手持式激光光譜儀軟件特性


LIBS 技術


氬氣淨化


  針對化學元素的精確分析


高能激光


  分析多種合金,不僅僅是鋁合金

合金分析儀

脈衝清洗激光、測試激光


    去除表麵汙染,幾乎所有材料的都可以直接測,無需研磨和樣品製備

    Sciaps手持式激光光譜儀提供便於攜帶的小氬氣瓶。因設計合理,一瓶氬氣可提供500次測試。不用時,氣瓶出口被密封,沒有氣體消耗。如果客戶不需要小氣瓶,用與一個氬氣罐出氣軟管匹配的連接閥門就可以將類似OES 使用的氬氣罐中的氬氣接入儀器。


    清洗的樣品表麵是獲得準確的分析結果的關鍵。例如,如樣品表麵沒有處理好,樣品表麵的灰塵或汙漬等會導致測試結果中的鈣,鈉,矽等元素的含量高於實際含量,測量的合金元素將不正確。以一個6061合金為例。上圖顯示矽(Si)元素含量在啟用樣品清潔模式前後的變化圖。樣品表麵的汙漬使得樣品中的矽和其他元素的含量比正常含量高幾倍,從而導致牌號判斷錯誤。Z開啟清潔模式2秒鍾後,矽和鎂的強度比穩定在樣品固有值附附近,從而得到準確的測試結果。用LIBS檢測時,如果沒有清潔模式的,必需切底打磨樣品,否則所得矽將比正常含量高幾倍;Z擁有激光清潔技術,無需打磨。.

     手持式激光光譜儀能測多種合金,而不僅僅是鋁合金。如何實現?Z使用最好的激光技術,能在十億分之一秒的時間內用高能量(5-6兆焦耳/脈衝,50赫茲)激發的樣品以產生十億瓦功率密度-這是在耐火合金上也能產生很好的等離子體光譜的原因

  • 規格

  • 型號z-200
    重量1.82kg帶電池
    尺寸21*30*12(cm)
    激發源5-6 mj/脈衝,50赫茲重複頻率,1064 nm激光源
    光譜/範圍多CCD光譜儀:190 nm - 670 nm。
    可用的應用程序Alloy  Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode
    光譜數據采集在無門或門禁操作中收集的頻譜數據,用戶可設置的門控延遲
    氬氣淨化氬氣有淨化功能,操作的用戶可更換氬氣瓶。
    分析範圍Mg-U之間的元素
    激光光柵將激光對準需檢測位置進行定向分析。光柵圖形16 x 16網格,256個位置。
    電子信號處理ARM Cortex-A9雙核/1.2 GHz內存:1 GB DDR2內存,1 GB內存
    自動對焦計算機控製手動或自動調整激光聚焦樣本位置
    供電可充電鋰電池,交流電源。
    顯示5"彩色觸摸屏智能手機顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形
    數據存儲8 GB SD
    通訊-數據傳輸Wifi,藍牙,USB。能連接到大多數設備,包括SciAps ProfileBuilder PC軟件。
    樣品查看在分析過程中,通過機載攝像機錄製樣本測試的視頻或圖片
    校準檢查通過測試材料為316不鏽鋼的內部快門,完成自動校準和波長刻度驗證
    漂移修正隻有對精度要求比較高的測試需要運行漂移修正功能 。通過測試工廠提供的標件自動完成漂移校正
    合金牌號庫包含500多個合金牌號。用戶可以 運行ProfileBuilder軟件自行添加合金牌號。
    安全密碼保護,樣品感應功能
    標準配件防水外殼,2鋰離子電池,充電器,USB線,標準用於導入的ProfileBuilder軟件,編輯合金級庫(合金應用),查看,保存結果,數據顯示。腕帶,工廠啟動培訓支持,終身免費軟件
    升級,備用的Prolene窗戶。